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許多現(xiàn)代器件沒有同軸連接，需要通過夾具來連接同軸儀器，如使用探頭來測量晶圓上器件，或是用夾子固定小型器件并連接到同軸適配器等。器件與儀器間的物體會給測量結果帶來不確定性。消除夾具影響的校準步驟非常繁瑣，還需要使用專門的校準件。自動夾具移除功能提供了一個向導程序，可以引導你完成設置，并代替你完成所有測量和校正操作。你甚至可以導出嵌入的文件，將夾具移除功能立即應用到其他儀器上。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

無論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰(zhàn)。在研發(fā)過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產(chǎn)制造過程中，需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡分析儀相關的傳統(tǒng)散射參數(shù)（S參數(shù)）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。

平衡電路既能降低對電磁干擾的敏感度和又能降低電磁干擾的產(chǎn)生。平衡元件可以是在三個射頻端口的平衡-單端器件或有四個端口的平衡-平衡器件。用四端口VNA很容易對這些元件進行測試，可以測量差模響應和共模響應以及模式變換項。

這些測試可以用單端激勵或真實模式激勵來完成。單端法是每次只測試一個DUT端口（只需要一個射頻源）并對差模響應和共模響應以及交叉模式特性進行數(shù)學計算。這是快且的技術，條件是外加功率電平應使AUT保持在線性或適度壓縮的工作區(qū)。

在高驅動電平條件下測試放大器的平衡性能時，如果仍然使用單端測量的方法，非線性特性會引測量結果的嚴重誤差，這就需要真實（差分或平衡）模式激勵。這種方法將兩個幅度相同的信號以180°（差模信號）或0°（共模信號）的相位差加到放大器輸入端對上。