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反射測試中，定向耦合器對(duì)于被測件反射信號(hào)而言是正向連接，定向耦合器耦合端輸出反映反射信號(hào)信息。

網(wǎng)絡(luò)分析儀測試反射特性時(shí)，由于定向耦合器有限的方向性影響，耦合器耦合端會(huì)包含泄露的輸入激勵(lì)信號(hào)，該信號(hào)會(huì)與反射信號(hào)進(jìn)行矢量疊加，造成反射指標(biāo)測試誤差。被測件匹配性能越好，定向耦合器方向性對(duì)測試影響越大。由功分器，定向耦合器及輸出端得到的信號(hào)輸入到相應(yīng)接收機(jī)進(jìn)行處理，為對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行分析，網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)置多臺(tái)接收機(jī)。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

兩個(gè)內(nèi)置信號(hào)源的性能增強(qiáng)也會(huì)簡化放大器和混頻器測量。例如，測試端口可利用的大信號(hào)功率通常為+13至+20 dBm（取決于型號(hào)和頻率）。這對(duì)將放大器驅(qū)動(dòng)到非線性區(qū)很有幫助，并且在把信號(hào)源用作測試混頻器的LO信號(hào)時(shí)也經(jīng)常要這樣。這兩個(gè)內(nèi)置信號(hào)源的諧波成分也非常低（通常為–60 dBc 或更低），從而提高諧波和IMD測量的精度。此外，典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時(shí)很容易就可以讓放大器從線性工作范圍轉(zhuǎn)化到非線性工作范圍。

內(nèi)部信號(hào)源也可用于測試頻率轉(zhuǎn)換器件如混頻器或變頻器，測試時(shí)除輸入激勵(lì)之外還需要LO信號(hào)。第二個(gè)信號(hào)源對(duì)掃描LO測試十分有用，在測試時(shí)LO信號(hào)連同射頻輸入信號(hào)一起被掃描，但保證RF信號(hào)和LO信號(hào)的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號(hào)發(fā)生器相比，使用從VNA內(nèi)部信號(hào)源引出的信號(hào)作為LO信號(hào)在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統(tǒng)方法的測試速度可5倍）。